셀 열폭주 테스트 데이터 및 가스 생성 분석

간단한 설명:


프로젝트 지시

셀 열폭주 테스트 데이터 및가스 분석생산,
가스 분석,

▍SIRIM 인증

인명과 재산의 안전을 위해 말레이시아 정부는 제품 인증 체계를 수립하고 전자제품, 정보 및 멀티미디어, 건축 자재에 대한 감시를 실시합니다. 통제 대상 제품은 제품 인증 인증서 및 라벨링을 취득한 후에만 말레이시아로 수출할 수 있습니다.

▍시림카스

말레이시아 산업 표준 연구소(Malaysian Institute of Industry Standards)가 전체 지분을 소유한 자회사인 SIRIM QAS는 말레이시아 국가 규제 기관(KDPNHEP, SKMM 등)이 지정한 유일한 인증 기관입니다.

2차전지 인증은 KDPNHEP(말레이시아 국내통상소비자부)가 유일한 인증기관으로 지정했습니다. 현재 제조업체, 수입업체, 무역업체는 SIRIM QAS에 인증을 신청할 수 있으며, 허가된 인증 방식에 따라 2차전지에 대한 시험 및 인증을 신청할 수 있습니다.

▍SIRIM 인증-2차전지

2차전지는 현재 자율인증 대상이지만 곧 의무인증 대상이 될 예정이다. 정확한 필수 날짜는 말레이시아의 공식 발표 시간에 따라 달라집니다. SIRIM QAS는 이미 인증 요청을 접수하기 시작했습니다.

2차전지 인증규격 : MS IEC 62133:2017 또는 IEC 62133:2012

▍왜 MCM인가?

● MCM 프로젝트 및 문의사항만 처리하고 이 분야의 정확한 최신 정보를 공유하기 위해 전문가를 배정한 SIRIM QAS와 좋은 기술 교류 및 정보 교환 채널을 구축했습니다.

● SIRIM QAS는 MCM 테스트 데이터를 인식하므로 샘플을 말레이시아로 배송하는 대신 MCM에서 테스트할 수 있습니다.

● 배터리, 어댑터, 휴대폰 등 말레이시아 인증에 대한 원스톱 서비스를 제공합니다.

T1은 셀이 가열되어 내부 물질이 분해되는 초기 온도입니다. 그 값은 셀의 전반적인 열 안정성을 반영합니다. T1 값이 높은 셀은 고온에서 더 안정적입니다. T1의 증가 또는 감소는 SEI 필름의 두께에 영향을 미칩니다. 셀의 고온 및 저온 노화는 T1 값을 감소시키고 셀의 열 안정성을 악화시킵니다. 저온 노화는 리튬 수지상 결정의 성장을 유발하여 T1의 감소를 가져오고, 고온 노화는 SEI 필름의 파열로 이어지며 T1도 감소합니다.
T2는 압력 완화 온도입니다. 내부 가스를 적시에 제거하면 열을 잘 분산시키고 열폭주 경향을 늦출 수 있습니다. T3은 열폭주 유발 온도이자 셀에서 열 방출이 시작되는 지점입니다. 이는 다이어프램의 기판 성능과 밀접한 관계가 있습니다. T3 값은 셀 내부 재료의 열 저항도 반영합니다. T3가 높은 세포는 다양한 남용 조건에서 더 안전할 것입니다.
T4는 열폭주 동안 셀이 도달할 수 있는 최고 온도입니다. 모듈 또는 배터리 시스템의 열 폭주 확산 위험은 셀의 열 폭주 동안 총 열 발생(ΔT=T4 -T3)을 평가하여 추가로 평가할 수 있습니다. 열이 너무 높으면 주변 셀의 열 폭주로 이어져 결국 전체 모듈로 전파됩니다.


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